양성 광감광성 폴리이미드(PSPI)와 포토리소그래피 기술을 사용하여 다양한 패턴의 유기 발광 다이오드(OLED) 장치를 일련으로 제작하였으며, 팔에틸백금포피린(PtOEP)을 분자 온도 탐침으로 사용하여 서로 다른 패턴 OLED에서 발생하는 열 효과를 조사하고, 다양한 열 효과가 OLED 장치에 미치는 영향을 추가로 연구하였다. 결과에 따르면, 픽셀 크기가 500 μm 이하일 때는 장치 작동 중 발생하는 열 효과가 픽셀 크기와 정(正)의 상관관계를 가지며, 선폭 및 전체 개구 면적과는 무관하였다; 픽셀 크기가 500 μm 이상일 때는 장치 내 발생하는 열 효과가 더 이상 증가하지 않았다. 5 μm 구경의 픽셀이 실온에서 10 mA/cm² 전류 밀도로 작동할 때, 장치 온도는 303.29 K였으나 같은 조건에서 픽셀 크기가 2,000 μm일 때 장치 온도는 최대 314.65 K에 달했다; 주변 온도가 323.15 K로 상승했을 때, 장치가 발생하는 열 효과는 동일한 추세를 보였다. 서로 다른 열 효과를 보이는 장치들의 외부 양자 효율 곡선은 장치 온도 상승으로 인한 외부 양자 효율 저하를 나타내며, 이는 온도 상승이 전하 운반체의 이동 속도를 증가시키는 동시에 삼중항 여기자 간 및 여기자와 폴라론 간의 충돌 확률을 높여 여기자 소멸을 촉진하고 효율 저하를 초래하기 때문이다.

패턴 OLED; PtOEP; 분자 온도 탐침; 접합 온도