摘要
유기 발광 다이오드(OLED)는 조명 및 디스플레이 분야에서 막대한 잠재적 응용으로 많은 주목을 받고 있습니다. 지난 30년간 OLED 장치의 효율과 수명이 크게 향상되었지만, 상용화 응용을 위해서는 장치 수명 향상이 여전히 해결해야 할 중요한 문제 중 하나입니다. 장치의 안정성을 더욱 향상시키기 위해서는 OLED 내부에 존재하는 열화 메커니즘을 깊이 연구할 필요가 있습니다. 본 논문은 소분자 및 고분자 OLED를 예로 들어 두 장치의 열화 메커니즘을 개괄적으로 정리하였습니다. OLED의 외부 및 내부 열화 메커니즘 일부를 요약하고 소분자 및 고분자 OLED 열화 메커니즘 연구 진행 상황을 소개합니다. 소분자 OLED의 경우, 연구에 따르면 열화 메커니즘은 여기자와 폴라론 간 상호작용으로 인해 함정이 형성되어 장치 열화를 초래한다고 제안합니다. 또 다른 이론은 여기자와 폴라론의 작용이 분자 집합을 유도하여 계면 열화를 촉진한다고 봅니다. 고분자 OLED의 열화 메커니즘은 여기자와 정공 간 상호작용으로 인해 정공 함정이 유도되어 밝기, 효율 손실 및 구동 전압 상승 현상을 초래합니다. 동시에 현재 일부 장치 수명 연장 방안을 개괄하여 효율이 높고 수명이 긴 OLED 장치 개발에 긍정적 역할을 제공합니다.
关键词
유기 발광 다이오드;퇴화 메커니즘;장치 수명;안정성
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