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薄膜太陽電池の欠陥イメージング手法応用研究の進展
WANG Wei
,
HONG Jiajun
,
WU Na
,
LIN Jian
,
LIU Rui
,
MA Changqi
,
DOI:
10.37188/CJL.20250058
摘要
世界的なエネルギー転換が加速する中、ナノ薄膜太陽電池、有機系太陽電池(OPV)およびペロブスカイト太陽電池(PSC)を含むこれらは、高効率、低コスト、製造の容易さから広く注目されている。現在、単接合有機太陽電池の実験室最高変換効率は20%を超え、ペロブスカイトの最高変換効率も26%を超えている。本論文はOPVおよびPSCの構造に基づき、電極、輸送層および光活性層の主な機能をまとめた。これに基づき、光励起蛍光(PL)、電気発光(EL)、レーザービーム誘起電流画像(LBIC)、ロックイン熱画像(LIT)などの代表的な微少欠陥イメージングの原理と方法を紹介し、これらの手法のOPVおよびPSCの劣化メカニズム研究と大面積均一性評価への最新の応用動向を総括した。最後に、現在の微視的欠陥イメージング試験の課題と今後の展望を指摘する。本論文は新しいナノ薄膜太陽電池の微視的欠陥イメージング手法と応用について比較的包括的な紹介を提供する。
关键词
有機太陽電池;ペロブスカイト太陽電池;欠陥イメージング;劣化メカニズム;均一性解析
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