摘要
熱発光試験は長残光材料研究において最も重要な試験項目です。材料が励起（紫外線、X線、可視光などの照射）を受けると、電子がトラップに捕獲され、これらの電子は熱刺激の作用で放出され、発光中心と再結合して長残光発光を生じます。近年、研究者たちは生体イメージング、放射線線量検出、偽造防止などの分野で長残光材料の研究を盛んに行い、長残光材料は発光材料研究のホットスポットとなっています。残光減衰過程で熱エネルギーが重要な役割を果たします。本稿ではエネルギーバンドモデルおよび熱発光の「一次」、「二次」および「一般級」動力学方程式を紹介し、一般的に用いられるいくつかのトラップ深度推定法をまとめ、最近我々が改良した熱発光ピーク位置の加熱速度共同推定法を紹介します。
关键词
熱発光;長残光
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