L'écran scintillant est un composant central de la technologie d'imagerie aux rayons X, et la mesure précise de son rendement lumineux est cruciale pour améliorer la résolution spatiale des systèmes d'imagerie et promouvoir le développement de nouveaux scintillateurs. Cet article présente d'abord les principes fondamentaux de la technologie d'imagerie aux rayons X, puis passe en revue de manière systématique les principales méthodes actuelles de mesure du rendement lumineux des scintillateurs pour l'imagerie aux rayons X. Ces méthodes incluent les mesures relatives basées sur le spectre et le spectre d'excitation aux rayons X, ainsi que des méthodes absolues utilisant les photomultiplicateurs (PMT), les photodiodes (PD) ou les photodiodes à avalanche (APD). De plus, cet article analyse en profondeur les facteurs potentiels susceptibles d'influencer les résultats de mesure du rendement lumineux, tels que les techniques d'emballage et d'accouplement, les caractéristiques énergétiques des sources radioactives et les types de particules, ainsi que les types de détecteurs photoniques utilisés pour la mesure du rendement lumineux. Par ailleurs, une méthode de mesure absolue du rendement lumineux basée sur la correction du coefficient de collecte de lumière est proposée. Cette méthode combine efficacement les avantages des méthodes absolues utilisant PMT et PD, permettant des mesures sur une large gamme de rendement lumineux couvrant des centaines de photons tout en maintenant une incertitude de mesure faible de 5%.

écran scintillant; rendement lumineux; méthodes de mesure; optimisation de l'incertitude