L'écran d'imagerie scintillante est l'élément central de la technologie d'imagerie par rayons X, et une mesure précise de sa production de lumière joue un rôle crucial dans l'amélioration de la résolution spatiale du système d'imagerie et la promotion du développement de nouveaux matériaux scintillants. Cet article commence par donner un aperçu des principes fondamentaux de la technologie d'imagerie par rayons X, puis passe en revue de manière systématique les principales méthodes actuelles de mesure de la production de lumière des écrans de scintillation pour l'imagerie par rayons X. Ces méthodes incluent non seulement des méthodes de mesure relatives basées sur le spectre et le spectre excités par rayons X, mais couvrent également celles utilisant des photomultiplicateurs (PMT) et des photodiodes (PD) ou des photodiodes à avalanche (APD). En même temps, cet article analyse en profondeur l'impact de multiples facteurs tels que les techniques d'encapsulation et de couplage, les caractéristiques énergétiques et les types de particules de la source radioactive, les types de détecteurs de lumière utilisés pour mesurer la production de lumière, et comment ces multiples facteurs peuvent influencer les résultats potentiels de mesure de la production de lumière. De plus, cet article propose une méthode de mesure absolue de la production de lumière basée sur la correction du coefficient de collecte de lumière. Cette méthode combine efficacement les avantages de la mesure absolue utilisant le PMT et le PD, permettant non seulement de réaliser des mesures de production de lumière à grande échelle couvrant des niveaux de centaines de photons, mais maintient également une faible incertitude de mesure de 5 %.

Écran scintillant; Production de lumière; Méthodes de mesure; Optimisation de l'incertitude