L'écran scintillateur d'imagerie est un composant clé de la technologie d'imagerie aux rayons X, et la mesure précise de son rendement lumineux est cruciale pour améliorer la résolution spatiale du système d'imagerie et promouvoir le développement de nouveaux scintillateurs. Cet article commence par une vue d'ensemble des principes fondamentaux de la technologie d'imagerie aux rayons X, puis passe en revue systématiquement les principales méthodes actuelles de mesure du rendement lumineux des scintillateurs d'imagerie aux rayons X. Ces méthodes comprennent à la fois des mesures relatives basées sur le spectre d'énergie et le spectre d'excitation par rayons X, ainsi que des mesures absolues utilisant des photomultiplicateurs (PMT), des photodiodes (PD) ou des photodiodes avalanche (APD). De plus, cet article analyse en profondeur les influences potentielles de divers facteurs sur les résultats de mesure du rendement lumineux, tels que les techniques d'emballage et de couplage, les caractéristiques énergétiques des sources radioactives et les types de particules, ainsi que les types de détecteurs optiques utilisés pour la mesure du rendement lumineux. En outre, une méthode de mesure absolue du rendement lumineux basée sur une correction du coefficient de collecte de lumière est proposée. Cette méthode combine efficacement les avantages des mesures absolues utilisant les PMT et les PD, permettant une mesure du rendement lumineux sur une large gamme couvrant des sorties lumineuses de l'ordre de centaines de photons, tout en maintenant une incertitude de mesure faible de 5%.

Écran scintillateur d'imagerie; rendement lumineux; méthodes de mesure; optimisation de l'incertitude