L'écran d'imagerie scintillante est un composant clé de la technologie d'imagerie par rayons X, et la mesure précise de son rendement lumineux est cruciale pour améliorer la résolution spatiale du système d'imagerie et favoriser le développement de nouveaux scintillateurs. Cet article présente d'abord les principes fondamentaux de la technologie d'imagerie par rayons X, puis passe en revue de manière systématique les principales méthodes de mesure du rendement lumineux des scintillateurs utilisés pour l'imagerie par rayons X. Ces méthodes incluent à la fois des mesures relatives basées sur les spectres d'énergie et les spectres d'excitation par rayons X, ainsi que des mesures absolues utilisant des photomultiplicateurs (PMT), des photodiodes (PD) ou des photodiodes avalanche (APD). Par ailleurs, cet article analyse en profondeur l'impact potentiel de divers facteurs sur les résultats des mesures du rendement lumineux, tels que les techniques d'emballage et de couplage, les caractéristiques énergétiques et les types de particules des sources radioactives, ainsi que les types de détecteurs photoélectriques utilisés. De plus, une méthode de mesure absolue du rendement lumineux basée sur la correction du coefficient de collecte de lumière est proposée. Cette méthode combine efficacement les avantages des mesures absolues utilisant les PMT et PD, permettant non seulement une mesure sur une large gamme couvrant une sortie lumineuse de l'ordre de centaines de photons, mais aussi un faible taux d'incertitude de 5%.

écran scintillant; rendement lumineux; méthodes de mesure; optimisation de l'incertitude