La détection aux rayons X est largement utilisée dans les domaines du diagnostic médical, de la sécurité et du contrôle industriel non destructif. Ces dernières années, les détecteurs de rayons X à base de pérovskites halogénées métalliques ont attiré une grande attention en raison de leur haute sensibilité, de leur faible limite de détection et de leur faible coût. Par rapport aux films de pérovskite polycristalline, la pérovskite monocristalline présente une densité d'états de défaut plus faible, un produit mobilité-vie du porteur plus élevé, une meilleure uniformité et stabilité grâce à l'absence de joints de grains, ce qui favorise l'amélioration des performances des détecteurs de rayons X. Cet article commence par les principes fondamentaux de la détection aux rayons X et les principaux indicateurs d'évaluation des performances, expose les avantages de l'utilisation de la pérovskite monocristalline pour la détection directe des rayons X, puis passe en revue les progrès de la recherche sur la détection et l'imagerie directe aux rayons X à base de pérovskite monocristalline. Une analyse systématique des mécanismes d'amélioration de la qualité de cristallisation, du contrôle de la composition des matériaux et de la conception des structures des dispositifs est présentée pour améliorer les performances de détection aux rayons X. Enfin, les défis techniques auxquels sont confrontés les détecteurs de rayons X à base de pérovskite monocristalline, les solutions potentielles, ainsi que les perspectives de développement de ce domaine de recherche sont discutés.

Pérovskite monocristalline; détection directe des rayons X; qualité du cristal; contrôle de la composition; structure du dispositif