La détection aux rayons X est largement utilisée dans les domaines du diagnostic médical, de la sécurité, du contrôle aux frontières, ainsi que dans le contrôle industriel non destructif. Ces dernières années, les détecteurs de rayons X à base de pérovskites halogénées métalliques ont suscité un grand intérêt en raison de leur haute sensibilité, de leur faible limite de détection et de leur faible coût. Comparées aux films de pérovskite polycristallins, les pérovskites monocristallines présentent une densité d’états de défauts plus faible, un produit mobilité-durée de vie des porteurs plus élevé, une homogénéité et une stabilité supérieures grâce à l’absence de joints de grains, ce qui améliore la performance des détecteurs de rayons X. Cet article commence par exposer les principes fondamentaux de la détection aux rayons X et les indicateurs clés d’évaluation des performances, puis explique les avantages de l’utilisation des pérovskites monocristallines pour la détection directe des rayons X, avant de passer en revue les avancées de la recherche sur la détection et l’imagerie directe aux rayons X à base de pérovskites monocristallines. Une analyse systématique est ensuite présentée sur l’optimisation de la qualité de cristallisation, le contrôle de la composition des matériaux et la conception des structures des dispositifs pour améliorer les performances de détection aux rayons X. Enfin, les défis technologiques et les solutions potentielles des détecteurs à base de pérovskites monocristallines sont discutés, ainsi qu’une perspective sur les tendances de développement de ce domaine de recherche.

pérovskite monocristalline; détection directe aux rayons X; qualité cristalline; contrôle de la composition; structure du dispositif