Les phonons acoustiques cohérents excités par un laser à impulsions femtosecondes dans des matériaux minces solides permettent d'obtenir rapidement et sans dommage les caractéristiques structurelles des matériaux et dispositifs émetteurs, ce qui est d'une grande importance pour l'inspection non destructive et l'imagerie des interfaces fonctionnelles des dispositifs optoélectroniques. Par rapport aux transducteurs photoacoustiques traditionnels à films métalliques basés sur le mécanisme thermoélastique, les matériaux semiconducteurs bidimensionnels présentent d'excellentes caractéristiques telles qu'une large absorption spectrale, une surface atomiquement lisse et un contrôle facile du nombre de couches. L'excitation par laser femtoseconde de semi-conducteurs bidimensionnels peut générer in situ des oscillations cohérentes de phonons acoustiques, créant ainsi les conditions pour émettre des impulsions ultrarapides d'ondes acoustiques afin d'obtenir des informations sur l'interface. Cette technique est largement utilisée pour l'évaluation non destructive de la distribution des défauts, des propriétés mécaniques et de la qualité des interfaces des dispositifs émetteurs. Cet article présente principalement les progrès de la recherche sur les phonons acoustiques cohérents dans les semi-conducteurs bidimensionnels et discute de l'importance scientifique et de la valeur sociale des techniques de mesure à haute profondeur de pénétration et haute résolution spatio-temporelle basées sur la conversion optoacoustique ultrarapide.

semi-conducteurs bidimensionnels;interfaces hétérogènes;phonons acoustiques cohérents