Progrès dans la recherche sur l'imagerie par détection directe des rayons X à base de pérovskite

SUN Xi-juan ,  

XIA Meng-ling ,  

XU Yin-sheng ,  

TANG Jiang ,  

NIU Guang-da ,  

摘要

La détection par rayons X est largement utilisée dans le diagnostic médical, le contrôle industriel, la sécurité et d'autres domaines, où le détecteur matriciel de rayons X est un composant clé des dispositifs d'imagerie. L'utilisation de matériaux semi-conducteurs pour convertir directement les rayons X en signal électrique permet d’obtenir une haute résolution spatiale. Ces dernières années, les matériaux pérovskites sont devenus des matériaux stars pour les détecteurs directs de rayons X grâce à leur fort coefficient d’atténuation des rayons X, leur longue distance de diffusion des porteurs et leur stabilité face au rayonnement. Cet article présente brièvement le principe de détection directe des rayons X, les propriétés clés et les matériaux principaux, met en lumière les avantages des pérovskites halogénées dans les détecteurs directs de rayons X, passe en revue les caractéristiques des détecteurs à pixels uniques et des détecteurs matriciels intégrés avec TFT ainsi que les avancées récentes. Enfin, il aborde les défis techniques actuels et les solutions potentielles, et offre une perspective sur les tendances futures des détecteurs matriciels X à base de pérovskites halogénées.

关键词

imagerie par rayons X; pérovskite; détecteur matriciel; intégration TFT

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