Research Progress in Defect Imaging Methods for Thin Film Solar Cells

WANG Wei ,  

HONG Jiajun ,  

WU Na ,  

LIN Jian ,  

LIU Rui ,  

MA Chang-Qi ,  

摘要

Im Zusammenhang mit der Beschleunigung des globalen Energiestransformation ist die Thin-Film-Solarzellen von Nanometern, einschließlich: organische Photovoltaikzellen (OPV) und Perowskit-Solarzellen (PSC), aufgrund ihrer hohen Effizienz, geringen Kosten und einfachen Herstellung weit verbreitet. Derzeit liegt die höchste Laborkonversionsrate für einzelne organische Solarzellen über 20 % und die höchste Konversionsrate für Perowskit-Solarzellen über 26 %. In diesem Artikel wird die Hauptfunktion der Elektroden, der Transport- und der aktiven Schicht der Zellen ausgehend von der Struktur der OPV und PSCs zusammengefasst. Es werden auch allgemeine Prinzipien und Methoden für Mikrodefektbilder vorgestellt, einschließlich: Photolumineszenz (PL), Elektrolumineszenz (EL), lasergestützte Strombildgebung (LBIC), synchronisierte thermische Bildgebung (LIT), und ein Überblick über die neuesten Anwendungen dieser Methoden in der Untersuchung von Ausfallprozessen der OPV und PSCs sowie in der Bewertung der Gleichmäßigkeit in der Region. Schließlich werden die aktuellen Mängel der Mikrodefektbilder und zukünftige Entwicklungsrichtungen hervorgehoben. Dieser Artikel bietet eine umfassendere Einführung in die Methoden der Mikrodefektbildgebung von neuen Nanometer-Dünnschicht-Solarzellen und deren Anwendungen.

关键词

Organic Photovoltaic Cells;Perovskite Solar Cells;Micro-area Defect Imaging;Failure Mechanisms;Homogeneity Analysis

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