Kohärente akustische Phononen, die durch femtosekundenlaserpulse in festen Dünnschichtmaterialien angeregt werden, ermöglichen eine schnelle und zerstörungsfreie Erfassung der Struktureigenschaften von lichtemittierenden Materialien und Geräten und sind von großer Bedeutung für die zerstörungsfreie Prüfung und Bildgebung von funktionalen Grenzflächen optoelektronischer Bauelemente. Im Vergleich zu herkömmlichen thermoelastischen photoakustischen Wandlern aus Metallfolien weisen zweidimensionale Halbleitermaterialien ausgezeichnete Eigenschaften wie ein breites Absorptionsspektrum, atomar glatte Oberflächen und eine leicht kontrollierbare Schichtzahl auf. Die Anregung zweidimensionaler Halbleiter mit femtosekundenlasern kann kohärente akustische Phononenschwingungen in situ erzeugen und schafft damit Voraussetzungen für die weitere Emission ultraschneller Schallimpulse zur Gewinnung von Grenzflächeninformationen. Dies findet breite Anwendung in der zerstörungsfreien Bewertung von Defektverteilung, mechanischen Eigenschaften und Grenzflächenqualität in lichtemittierenden Bauelementen. Dieser Artikel stellt hauptsächlich den Forschungsfortschritt zu kohärenten akustischen Phononen in zweidimensionalen Halbleitern dar und diskutiert die wissenschaftliche Bedeutung und den gesellschaftlichen Wert von Messtechniken zur ultraschnellen fotoakustischen Umwandlung mit hoher Durchdringungstiefe und hoher zeitlich-räumlicher Auflösung.

zweidimensionale Halbleiter;heterogene Grenzflächen;kohärente akustische Phononen