Kohärente akustische Phononen, angeregt durch femtosekundenpulslaser in festen Dünnschichtmaterialien, ermöglichen eine schnelle und zerstörungsfreie Erfassung der strukturellen Eigenschaften von lumineszierenden Materialien und Bauelementen und sind von großer Bedeutung für die zerstörungsfreie Prüfung und Bildgebung von funktionalen Grenzflächen optoelektronischer Bauelemente. Im Vergleich zu herkömmlichen Metallfilmbasierten photoakustischen Wandlern mit thermomechanischem Wirkprinzip weisen zweidimensionale Halbleitermaterialien hervorragende Eigenschaften wie breitbandige Absorption, atomare Oberflächenebenheit und eine einfach kontrollierbare Schichtanzahl auf. Die Anregung zweidimensionaler Halbleiter durch Femtosekundenlaser kann ortsgebundene kohärente akustische Phononenschwingungen erzeugen und schafft Bedingungen für die Emission ultraschneller Schallpulsen zum Gewinn von Grenzflächeninformationen. Dies findet breite Anwendung in der zerstörungsfreien Bewertung von Defektverteilungen, mechanischen Eigenschaften und Grenzflächenqualität lumineszierender Bauelemente. Dieser Artikel stellt hauptsächlich den Forschungsfortschritt kohärenter akustischer Phononen in zweidimensionalen Halbleitern vor und diskutiert die bedeutende wissenschaftliche und gesellschaftliche Relevanz der hoch durchdringenden, hoch zeit- und raumaufgelösten Messtechniken basierend auf ultraschneller optoakustischer Umwandlung.

zweidimensionale Halbleiter;heterogene Grenzflächen;kohärente akustische Phononen