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基于a-IGZO TFT的AMOLED像素电路稳定性的仿真研究
发光学应用及交叉前沿 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于a-IGZO TFT的AMOLED像素电路稳定性的仿真研究

    • Simulation of The Stability of a-IGZO TFT-OLED Pixel Circuits

    • 发光学报   2013年34卷第9期 页码:1240-1244
    • DOI:10.3788/fgxb20133409.1240    

      中图分类号: TN321+.5
    • 收稿日期:2013-06-12

      修回日期:2013-06-30

      纸质出版日期:2013-09-10

    移动端阅览

  • 贾田颖, 詹润泽, 董承远. 基于a-IGZO TFT的AMOLED像素电路稳定性的仿真研究[J]. 发光学报, 2013,34(9): 1240-1244 DOI: 10.3788/fgxb20133409.1240.

    JIA Tian-ying, ZHAN Run-ze, DONG Cheng-yuan. Simulation of The Stability of a-IGZO TFT-OLED Pixel Circuits[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2013,34(9): 1240-1244 DOI: 10.3788/fgxb20133409.1240.

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