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基于可调光延迟线的光子学微波频率测量
器件制备及器件物理 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于可调光延迟线的光子学微波频率测量

    • Microwave Frequency Measurement Based on Optic Delay Line

    • 发光学报   2011年32卷第9期 页码:944-949
    • 中图分类号: TN929.11
    • 收稿日期:2011-05-25

      修回日期:2011-06-14

      网络出版日期:2011-09-22

      纸质出版日期:2011-09-22

    移动端阅览

  • 吴彭生, 韩秀友, 谷一英, 胡墅, 李善锋, 赵明山. 基于可调光延迟线的光子学微波频率测量[J]. 发光学报, 2011,32(9): 944-949 DOI:

    WU Peng-sheng, HAN Xiu-you, GU Yi-ying, HU Shu, LI Shan-feng, ZHAO Ming-shan. Microwave Frequency Measurement Based on Optic Delay Line[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2011,32(9): 944-949 DOI:

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