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极化效应对InGaN/GaN多量子阱结构光电特性的影响
器件制备及器件物理 | 更新时间:2020-08-12
    • 极化效应对InGaN/GaN多量子阱结构光电特性的影响

    • Influence of Polarization Effect on Optoelectronic Properties of InGaN/GaN Multiple Quantum Well

    • 发光学报   2011年32卷第3期 页码:266-271
    • 中图分类号: O472.3;O473.4
    • 收稿日期:2010-10-01

      修回日期:2010-10-27

      网络出版日期:2011-03-22

      纸质出版日期:2011-03-22

    移动端阅览

  • 路慧敏, 陈根祥. 极化效应对InGaN/GaN多量子阱结构光电特性的影响[J]. 发光学报, 2011,32(3): 266-271 DOI:

    LU Hui-min, CHEN Gen-xiang. Influence of Polarization Effect on Optoelectronic Properties of InGaN/GaN Multiple Quantum Well[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2011,32(3): 266-271 DOI:

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相关作者

康俊勇
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相关机构

厦门大学 物理学系, 微纳光电子材料与器件教育部工程研究中心, 福建省半导体材料及应用重点实验室, 半导体光电材料及其高效转换器件协同创新中心
厦门市未来显示技术研究院 嘉庚创新实验室
中国农业大学 应用物理系
中国科学院半导体研究所 集成光电子学国家重点实验室
南京大学 电子科学与工程学院
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