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ZnO薄膜的椭偏和DLTS特性
论文 | 更新时间：2020-08-12

    • ZnO薄膜的椭偏和DLTS特性

    • The Investigation of Ellipsometry and DLTS Characteristic for the ZnO Films

    • 发光学报   2008年29卷第3期 页码：495-498
    • 中图分类号： O471.5

    • 收稿日期：2007-10-25，

      修回日期：2007-12-24，

      纸质出版日期：2008-05-20

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  • 刘磁辉, 苏剑锋, 张伟英, 田珂, 傅竹西. ZnO薄膜的椭偏和DLTS特性[J]. 发光学报, 2008,29(3): 495-498 DOI：

    LIU Ci-hui, SU Jian-feng, ZHANG Wei-ying, TIAN Ke, FU Zhu-xi. The Investigation of Ellipsometry and DLTS Characteristic for the ZnO Films[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2008,29(3): 495-498 DOI：

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相关作者

范力维
罗宇强
任 豪
王巧彬
吕有明
范希武
姚斌
赵东旭

相关机构

广州市光机电技术研究院 广东省现代控制与光机电技术公共实验室
中国科学院, 激发态物理重点实验室, 吉林, 长春, 130033
中国科学院, 研究生院, 北京, 100049
半导体超晶格国家重点实验室
北京师范大学物理系
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