大功率半导体激光器的可靠性研究

曹玉莲; 王乐; 廖新胜; 程东明; 刘云; 王立军

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大功率半导体激光器的可靠性研究

论文 | 更新时间：2020-08-11

- 大功率半导体激光器的可靠性研究
- Reliability of High-power Semiconductor Laser Diodes
- 发光学报 2003年24卷第1期页码：100-102
- 作者机构：
  
  1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春,中国,130033
  2. 吉林大学, 电子科学与工程学院,吉林长春,130026
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： TN365
- 收稿日期：2002-07-23，
  
  修回日期：2002-11-20，
  
  纸质出版日期：2003-01-20
- 稿件说明：
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曹玉莲, 王乐, 廖新胜, 程东明, 刘云, 王立军. 大功率半导体激光器的可靠性研究[J]. 发光学报, 2003,24(1): 100-102

CAO Yu-lian, WANG Le, LIAO Xin-sheng, CHENG Dong-ming, LIU Yun, WANG Li-jun. Reliability of High-power Semiconductor Laser Diodes[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2003,24(1): 100-102
曹玉莲, 王乐, 廖新胜, 程东明, 刘云, 王立军. 大功率半导体激光器的可靠性研究[J]. 发光学报, 2003,24(1): 100-102 DOI：

CAO Yu-lian, WANG Le, LIAO Xin-sheng, CHENG Dong-ming, LIU Yun, WANG Li-jun. Reliability of High-power Semiconductor Laser Diodes[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2003,24(1): 100-102 DOI：

摘要

对InGaAs/AlGaAs和InGaAsP/GaAs有源区含铝的915nm和无铝的808nm腔面镀膜及未镀膜的大功率半导体激光器进行了老化实验.在老化前通过综合参数测试仪测试两种激光器的斜率效率、阈值电流

发现有腔面膜的激光器比无腔面膜的激光器的阈值电流降低25%以上.在12倍阈值电流下

恒流老化40h左右

老化后再分别测试它们的阈值电流、功率参数

我们发现在老化后未镀膜的激光器的阈值电流和镀有腔面膜的激光器相比增加25mA以上

输出功率也比镀过腔面膜的减小到了原来的1/2

可见腔面保护对于延长激光器的寿命是很重要的.

Abstract

The reliability of coated and uncoated mirror facets InGaAs/GaAs and InGaAsP/GaAs high- power semiconductor lasers has been studied through aging experiment. The threshold current and output light power of the lasers were tested before aging

and it showed that the threshold current of the lasers with coated facets is decreased by a factor of 4 than that of lasers with uncoated facets. Then both kinds of lasers were tested after aging at 1.2 times of the threshold current for 40h.It showed that the threshold current was increased by more than 25mA

and output light power decreased more than 50% compared to those of without aging. So to lenghtened the lifetime of lasers

it is important that the mirrors facets must be coated.

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