您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
MOCVD侧向外延GaN的结构特性
半导体发光、激光和光电性质 | 更新时间:2020-08-11
    • MOCVD侧向外延GaN的结构特性

    • Structural Characterization of Epitaxial Lateral Overgrowth GaN by MOCVD

    • 发光学报   2005年26卷第6期 页码:748-752
    • 中图分类号: O472.3;O482.31
    • 收稿日期:2005-03-10

      修回日期:2005-06-27

      纸质出版日期:2005-11-20

    移动端阅览

  • 方慧智, 陆敏, 陈志忠, 陆羽, 胡晓东, 杨志坚, 张国义. MOCVD侧向外延GaN的结构特性[J]. 发光学报, 2005,26(6): 748-752 DOI:

    FANG Hui-zhi, LU Min, CHEN Zhi-zhong, LU Yu, HU Xiao-dong, YANG Zhi-jian, ZHANG Guo-yi. Structural Characterization of Epitaxial Lateral Overgrowth GaN by MOCVD[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2005,26(6): 748-752 DOI:

  •  
  •  

0

浏览量

64

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

MOCVD生长Si衬底上HT-AlN缓冲层低生长压力对GaN薄膜的影响
常压MOCVD生长Ga2O3薄膜及其分析
常压MOCVD生长ZnO/GaN/Al2O3薄膜及其性能
Si(111)衬底上GaN的MOCVD生长
MOCVD生长的GaN和GaN:Mg薄膜的拉曼散射

相关作者

韩军
赵佳豪
邢艳辉
史峰峰
杨涛涛
赵杰
王凯
李焘

相关机构

北京工业大学微电子学院 光电技术教育部重点实验室
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 纳米器件与应用重点实验室
南昌大学, 教育部发光材料与器件工程研究中心
南昌大学 教育部发光材料与器件工程研究中心
深圳大学, 光电子学研究所, 广东省光电子器件与系统重点实验室, 光电子器件与系统教育部重点实验室
0