您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
集成光学亚微米光栅的原子力显微镜表征
论文 | 更新时间：2020-08-11
|

    • 集成光学亚微米光栅的原子力显微镜表征

    • CHARACTERISATION OF SUBMICROMETER GRATINGS FOR INTEGRATED OPTICS BY A ATOMIC-FORCE-MICROSCOPE

    • 发光学报   1998年19卷第1期 页码：80-81

    • 收稿日期：1997-08-13，

      纸质出版日期：1998-02-28

    移动端阅览

  • 李燕, 徐迈, 张玉书, Burger J, Parriaux O. 集成光学亚微米光栅的原子力显微镜表征[J]. 发光学报, 1998,19(1): 80-81 DOI：

    Li Yan, Xu Mai, Zhang Yushu, Burger J, Parriaux O. CHARACTERISATION OF SUBMICROMETER GRATINGS FOR INTEGRATED OPTICS BY A ATOMIC-FORCE-MICROSCOPE[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1998,19(1): 80-81 DOI：

  •  
  •  

0

浏览量

101

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

聚合物脊形光波导TM模色散特性的偏振修正
有限元分析法在SOI基微环谐振器设计中的应用
长周期波导光栅窄带光滤波器特性的模拟
导波声光频谱仪集成光路的研究
波导短程透镜的实验研究

相关作者

刘永智
刘永
张晓霞
万文杰
高原
唐雄贵
廖进昆
张世林

相关机构

电子科技大学 光电信息学院
湖南师范大学 物理与信息科学学院
天津大学 电子信息工程学院
宽带光纤传输与通信教育部重点实验室 电子科技大学光电信息学院
西华师范大学 物理与电子学院
0