您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法
论文 | 更新时间：2021-03-18
|

    • Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法

    • A MEASURABLE METHOD OF ALUMINIUM COMPOSITE OF Ga1-xAlxAs EPITAXIAL MATERIAL WITHIN ACTIVE REGION

    • 发光学报   1998年19卷第4期 页码：361-363

    • 收稿日期：1998-07-30，

      纸质出版日期：1998-11-30

    移动端阅览

  • 刘学彦. Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法[J]. 发光学报, 1998,19(4): 361-363 DOI：

    Liu Xueyan. A MEASURABLE METHOD OF ALUMINIUM COMPOSITE OF Ga1-xAlxAs EPITAXIAL MATERIAL WITHIN ACTIVE REGION[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1998,19(4): 361-363 DOI：

  •  
  •  

0

浏览量

12

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

中性蓝光铱配合物及其OLED研究进展
含四元环Ir-S-C-S骨架的高效红光铱（Ⅲ）配合物及其OLED性能
基于准二维钙钛矿的窄线宽红光电致发光器件性能研究
维生素C添加剂改善纯红锡基钙钛矿电致发光性能
具有二聚喹啉结构的有机电致发光材料的构性关系

相关作者

吴少华
陆光照
钟祥永
谢启飞
于胜
祁彦宇
韩华博
周亮

相关机构

深圳信息职业技术学院 信息技术研究所
河北师范大学 化学与材料科学学院
商丘师范学院 化学化工学院
中国科学院 长春应用化学研究所 稀土资源利用国家重点实验室
浙江工业大学 化学工程学院
0