您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
多孔硅的电荷存贮现象
其它 | 更新时间:2020-08-11
    • 多孔硅的电荷存贮现象

    • CHARGES STORAGE PHENOMENON IN THE POROUS SILICON

    • 发光学报   1993年14卷第2期 页码:203-205
    • 收稿:1993-05-13,

      纸质出版:1993-05-30

    移动端阅览

  • 温庆祥, 罗宗铁. 多孔硅的电荷存贮现象[J]. 发光学报, 1993,14(2): 203-205 DOI:

    Wen Qingxiang, Lou Zhongtie. CHARGES STORAGE PHENOMENON IN THE POROUS SILICON[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1993,14(2): 203-205 DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

156

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

可见光波段激光器线宽压缩技术研究进展
强共价低声子能量稀土硫化物:破解Cr3+短波红外发光效率与稳定性难题
氨基酸基荧光碳点制备及其四环素检测应用
具有级联纳米酶活性的三模态协同纳米复合材料:面向潜在的近红外响应切换成像与治疗
(Ga/Al)4GeO8∶Cr3+荧光粉的多格位超宽带近红外发光

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0