半导体激光器的光强—电流特性图示测量

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半导体激光器的光强—电流特性图示测量

论文 | 更新时间：2020-08-11

- 半导体激光器的光强—电流特性图示测量
- A OSCILLOSCOPE DISPLAY MEASUREMENT OF THE LIGHT-CURRENT CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASERS
- 发光学报 1984年5卷第1期页码：78-80
- 作者机构：
  
  中国科学院上海冶金研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 收稿：1983-08-04，
  
  纸质出版：1984-02-29
- 稿件说明：
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肖宗耀, 方文, 陈莲勇. 半导体激光器的光强—电流特性图示测量[J]. 发光学报, 1984,5(1): 78-80

Xiao Zong-yao, Fang Wen, Chen Lian-yong. A OSCILLOSCOPE DISPLAY MEASUREMENT OF THE LIGHT-CURRENT CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASERS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1984,5(1): 78-80
肖宗耀, 方文, 陈莲勇. 半导体激光器的光强—电流特性图示测量[J]. 发光学报, 1984,5(1): 78-80 DOI：

Xiao Zong-yao, Fang Wen, Chen Lian-yong. A OSCILLOSCOPE DISPLAY MEASUREMENT OF THE LIGHT-CURRENT CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASERS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1984,5(1): 78-80 DOI：

本文描述一种半导体激光器的L—I特性图示测量方法。采用短三角形脉冲电流作激光器的扫描驱动电源。

A low-duty-cycle triangle pulse current was served as scanning drive current for semiconductor lasers.Consequently

luminescence intensity versus current(L-I)curves of lasers can be exhibited on a dual oscilloscope.From the curves the threshold currents

the emission powers can te directly read

and "kinks" or "no-kinks" in L-I curves can also be directly observed.Due to the no heat-damage characteristics

this metbod is especially useful for measuring chips of diode lasers.

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