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中国科学院长春物理所
纸质出版:1980-03-30
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刘耀忠, 张志舜. 发光晶体微区光电特性的扫描电子显微镜分析[J]. 发光学报, 1980,1(2): 25-29
. [J]. Chinese Journal of Luminescence, 1980,1(2): 25-29
刘耀忠, 张志舜. 发光晶体微区光电特性的扫描电子显微镜分析[J]. 发光学报, 1980,1(2): 25-29 DOI:
. [J]. Chinese Journal of Luminescence, 1980,1(2): 25-29 DOI:
扫描电子显微镜可对固体样品进行形貌观察、微区成份分析、晶体结构分析
这已为人们所熟知。然而在微区光、电、磁特性分析方面它还有巨大潜力。发掘这种潜力可以得到发光晶体微区光电特性、晶体完整性及能带结构的信息[1]。
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